TEM（透射电子显微镜）

TEM（透射电子显微镜）

TEM （透射电子显微镜） 次浏览 | 2022.10.29 11:02:39 更新 来源 ：互联网 精选百科 本文由作者推荐 TEM透射电子显微镜

透射电子显微镜（英语：Transmission Electron Microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2&micro；光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。

中文名

透射电子显微镜

外文名

Transmission Electron Microscope(TEM)

简介

TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。

描述

透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。[1]但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是透射电镜电子束可以直接穿透的。研究者通常把试样直接放在微栅上进行透射电镜观察。但是由于纳米颗粒或纳米纤维容易团聚，因此，用这种方法常常得不到理想的结果，有些研究内容也难以实施。比如∶纳米颗粒的表面改性的研究，纳米纤维的横切面研究都比较困难，研究界面问题则有更大的难度。因此，纳米材料的透射电镜研究，其样品制备问题是一个值得探讨的重要课题。对此，方克明教授进行了研究，探索了一种比较适用的制样方法。该方法可以从纳米颗粒或微米颗粒中直接切取可以进行透射电镜研究的薄膜，对进行纳米纤维横切面观察或纳米界面观察的制样也有很高的效率。

这一技术的特点是从纳米或微米尺度的试样中直接切取可供透射电镜或高分辨电镜研究的薄膜。试样可以为简单颗粒或表面改性后的包覆颗粒，对于纤维状试样，既可以切取横切面薄膜也可以切取纵切面薄膜。对含有界面的试样或纳米多层膜，该技术可以制备研究界面结构的透射电镜试样。技术的另一重要特点是不损伤试样的原始组织。制膜过程中不使用高温，不接触酸碱，必要时也可以不接触水或水溶液。

TEM = Test for English Majors 英语专业等级考试

分为英语专业四级(TEM4)和八级(TEM8)

考试目的是为检测全国高校本科英语专业教学大纲执行情况而进行的本科教学考试。

报名资格

参加本科专业英语四级统测报名对象为：

（1）经教育部备案或批准的高等院校中英语专业二年级本科生。

（2）经教育部备案或批准的高等院校中修完英语专业基础阶段教学大纲规定课程的二、三年制最后一学年的大专生。

（3）教育部备案或批准有学历的成人高等教育学院中四年制即脱产学习的英语专业（第二学年）本科生；五年制即不脱产学习的、修完英语专业基础阶段教学大纲规定课程（第三学年）的本科生。不脱产的三年制大专生，必须在第三学年时方可报名参加专业英语四级测试。

（4）重点外语类院校中，非英语专业的本科生中当年参加英语六级考试且成绩在60分以上，可参加当年专业英语四级考试。

（5）参加四级测试的考生只有一次补考机会。

参加本科专业英语八级统测报名对象为：

（1）经教育部备案或批准的高等院校中英语专业四年级本科生。

（2）经教育部批准有学历的成人高等教育学院中完成四年制即脱产学习的英语专业（第四学年）本科生；五年制即不脱产学习英语专业（第五学年）的本科生。

（3）非英语专业六级考试通过的学生可报名参加专业英语八级考试。

（4）参加八级测试的考生只有一次补考机会。

凡未通过基础阶段（TEM4）统测的考生，也可参加高年级阶段（TEM8）的统测。

英语专业的专生本学生因超出英语专业基础阶段（TEM4）统测规定的考试年限（祥见报名对象），一律不得参加英语专业基础阶段（TEM4）统测，但可在英语专业专生本学习的最后一学期参加高年级阶段（TEM8）统测；因各种原因未在规定的考试年限参加TEM4（第四学期）或TEM8（第八学期）统测的专业英语考生，不得以补考名义参加次年的TEM4或TEM8统测。[2]

参考资料