简要介绍如何使用VASP及相关软件来计算和处理用来分析成键过程的电荷密度差(charge density difference)
VASP 软件经验 电荷密度 电子结构
这里主要是讨论在VASP中如何得到用来分析成键前后电荷转移的电荷密度差。
此时电荷密度差定义为:
delta_RHO = RHO_sc - RHO_atom
其中 RHO_sc 为自洽的面电荷密度,而 RHO_atom 为相应的非自洽的面电荷密度,是由理想的原子周围电荷分布堆彻得到的,即为原子电荷密度的叠加(a superposition of atomic charge densities)。
不同晶面的 RHO_sc 可由自洽计算的CHG或CHGCAR得到;
而计算 RHO_atom 所需的 CHG 或 CHGCAR 可由下述非自洽计算得到:
仍使用原来自洽计算时的四个输入文件,但INCAR中需要设置 ICHARG=12 和 NELM=0,其他设置不变。
需要特别注意的,应保持前后两次计算(自洽和非自洽)中的 FFT-mesh 一致。因为,只有维数一样,我们才能对两个RHO作相应的矩阵相减。不过,只要按上一段提到的设置方法做就行了,无须特别增加别的设置。
数据处理:
矩阵相减:使用MatLab或是自已写个小程序。
作图:Origin 或 MatLab。