一种薄膜粘附力测量系统[发明专利]

更新时间:2023-06-10 19:45:28 阅读： 评论：0

专利名称：一种薄膜粘附力测量系统专利类型：发明专利

发明人：赵亚溥，王斌斌，王子千，左鹏申请号：CN201110342244.4

申请日：20111102

公开号：CN102507438A

公开日：

20120620

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种薄膜粘附力测量系统，包括：薄膜粘附单元，用于粘附待测薄膜；夹持单元，用于夹持粘附在所述薄膜粘附单元上的薄膜的一端；移动单元，用于控制所述夹持单元沿所述薄膜的长度方向和/或与所述薄膜表面相垂直的方向移动；拉力测量单元，设置在所述夹持单元上，用于测量夹持单元夹持住所述待测薄膜一端并向预定方向将所述薄膜从所述薄膜粘附单元拉起的过程中，所述夹持单元受到所述薄膜的拉力。本发明通过移动单元控制夹持单元可沿薄膜的长度方向和与薄膜表面相垂直的方向移动，并在移动的过程中通过拉力测量单元测量夹持单元所受到的拉力，也就是薄膜粘附在薄膜粘附单元表面的粘附力，就能够实现在预定的路径上测量薄膜的粘附力。

申请人：中国科学院力学研究所

地址：100190 北京市海淀区北四环西路15号

国籍：CN

代理机构：北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：胡剑辉

更多信息请下载全文后查看

本文发布于:2023-06-10 19:45:28，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.wtabcd.cn/zhishi/a/1686397528196284.html

版权声明：本站内容均来自互联网，仅供演示用，请勿用于商业和其他非法用途。如果侵犯了您的权益请与我们联系，我们将在24小时内删除。

本文word下载地址：一种薄膜粘附力测量系统[发明专利].doc

本文 PDF 下载地址：一种薄膜粘附力测量系统[发明专利].pdf

上一篇：粘附力测试标准

下一篇：返回列表

标签：薄膜   单元   粘附   夹持   测量   知识产权