什么是扫描

什么是“Z扫描测量”？

Z扫描测量是⼀种基于⾃聚焦效应的，⽤于测量材料克尔⾮线性强度的⽅法。

Z扫描测量技术通常⽤于测量光学材料的克尔⾮线性强度（即⾮线性折射率n2）。其原理是：将待测材料样品移动通过

激光束的焦点，并在样品后⾯的某个地⽅测量光束半径（或光轴上强度）。由于⾃聚焦效应的作⽤，这些量会发⽣变

化，从⽽可以得到光束半径（或光轴上强度）关于样品位置的函数。

如图1所⽰，是⼀种常见的Z扫描测量装置。如果⾮线性折射率外籍人员 为正，并且将样品置于焦点的后⾯，⾃聚焦效应将减⼩光

束的发散，从⽽提⾼检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前⾯，焦点将向左侧移动，并且聚焦后的强的光束发散将

减⼩检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出⾮线冲的英文 性折射率的⼤⼩。

(图1)Z扫描测量实验装置图。测量通过光阑后的光强，并得出其与样品位置的关系即可计算得出⾮线性折射率n2。其

中左上⽅的探测器常⽤于探测⼊射光强度。

需要注意的是⼀些⾮线性吸收（例如双光⼦吸收）也可能会影响所测量元旦诗 的信号。不过，这可以通过额外记录全部的透射

光束功率进⾏校正。

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