SMD灯珠来料检验
序号项目不良问题不良问题判定
1
测试
1.1死灯在规定测试条件下,晶片不发光不接受.
1.2发光错误发光颜色不同于规格或标准样品要求不接受
1.3Ir
在规定测试条件下Ir>2μA不接受(有特殊要求按特殊要求).
1.4Vf
在规定测试条件下,VF值超规格要求不接受(±0.1)
2
性能
测试
2.1亮度在规定测试条件下,亮度值超±10%不接受.
2.2色座标在规定测试条件下,色座标值不符合规格±0.01要求不接受.
2.3主波长在规定测试条件下,主波长在±1nm可接收。
2.4电极反向极性不符合规格要求不接受.
3
尺寸
3.1外形尺寸与《产品规格书》标准不符合不接受
3.2脚长尺寸脚长尺寸与《产品规格书》标准不符不接受.
4
外观
4.1清洁灯珠表面干净,无脏物附在其上,PPA表面染色不接收.
4.2异物
灯杯內异物不得大于0.2mm,线状异物最长不得超过0.3mm,Lens內异物
最大允许0.2mm.另所有异物不允许连接任意两个电极或形成导通状态.
4.3银胶量从正面正视,单个晶片四周露有银胶,即晶片要被银胶四周包围
4.4引脚氧化/沾
油墨/沾胶
不接收
4.5掉油墨油墨脫落不接收.
4.6破损/缺角PPA破损,缺角不接收.
4.7多晶/少晶片按《产品规格书》要求,不允许多,少晶片.
4.8晶片的位置按《产品规格书》要求各晶片位置须与要求一致.
4.9胶体颜色胶体颜色不同于规格或标准样品不接受.
4.10灯面
刮伤/压伤
不带Lens产品:A.刮伤/压伤的长度不允许超过0.3mm,宽度不允许超过
0.2mm;(目视距离30cm),B.有明显深入的刮伤不接收;C.每颗灯只允许一处
有(A点范围内)刮伤/压伤
4.11生锈灯脚有锈斑,擦拭后仍有锈迹则不接收.
4.12披锋PPA上的披锋最长不允许超过0.2mm.
4.13胶体缺损胶体缺损不接受.
来料检验标准
深圳市中祥创新电子科技有限公司
标准名称SMDLED检验标准
文件编号
适用
范围
品管部
SMD灯珠来料检验
序号项目不良问题不良问题判定及图示
4
外观
4.14焊线不良
1.漏焊金线不接收
2.金球打偏不接收(即金球的4/5应在电极內).
4.15弧线不良
线弧扭曲不良(10X镜下确认)
OK样本
4.16气泡
灯杯內气泡直径小于0.1mm,沒有与金线,晶片相接触
气泡直径小于0.1mm且沒有与金线,晶片接触.
气泡与晶片,金线接
SMD灯珠来料检验
序号项目不良问题不良问题判定
4
外观
带Lens产品,Lens部份:1.在Lens1/2以下气泡小于0.1mm未接触晶片、金
线,2.在Lens1/2以上汽泡小于0.1mm且不在晶片正上面可,接收(仅限一
处)
4.17银胶量多
1.三晶支架不允许两电极的银胶相接或银胶与相邻电,极相接,两者的间隔必
须大于1/3两电极的间距.(在10X镜下确认)
2.单晶支架的银胶不允许与焊线区接触,最大允许银胶不超过2/3两电极的间
距
4.18少胶多胶
1.产品多胶/少胶:长宽高尺寸不超出Spec要求最大/最小的尺寸
与PPA之间错位最大为0.2mm.
3.胶体少胶标准﹕(外观判定少胶以未露金线为准,但不允许胶体不平).
4.胶体多胶标准:不允许高出PPA,即最多与A平面(PPA)平齐.侧面沾胶不
允许沾到灯珠脚上
4.19少油墨
将整个灯平面分为4部分,任何部分有1处少墨不得超过此部分面积的20%
如有2处(任何部分)以上少墨则不得少于总面积,的10%.(如根据客要求不
须涂油墨,则不适于此规格)
4.20极性不良SMD灯珠正负极有吴
TAPING来料检验
序号项目不良问题不良问题判定
1
外观
混料所Tapping的灯珠混有与其型号不同的灯珠不接受
方向贴错所贴灯珠方向与<<产品规格书>>或<<作业指导书>>不一致不接受
载带变形外观发现有载带变形则不接收
卷轴变形外观发现有卷轴变形则不接收
贴带胶纸破影响包裝露元件,不接收
盖带松盖带与载带有缝隙或用手轻泞载带后,盖带与贴带有缝隙,不接收.
盖带紧拉力过后,载带上残留有盖带,不接受.
2
包裝及
其它
数量不符实际数量比标准数量少0pcs以上不接受
标识与实物不
一致
标签所标示的灯珠型号与实物不一致不接受
方向方向不一致不接收
3
拉力拉力不合格
测试盖带与载带的粘接力:8mm宽的盖带超出10g--100g范围不接受
12mm--56mm宽的盖带超出10g--130g范围不接受
DIPLED检验标准
使用设
备
发光二极管
测试仪
使用工具
游标卡尺、放大
镜、烙铁、发光二
极管测试仪
项目检验项目判定标准检验方法
外观
型号与BOM一致查对BOM要求
尺寸外形尺寸符合产品说明书或图纸要求。卡尺
引脚支架
引脚有卡位,尺寸一致卡尺
引脚无直观弯曲,前后批次长短一致目测
管脚根部无爬胶或残胶,管脚可焊性合格,管脚光亮,
无生锈,焊后无发黑现象
目测
胶体内支架外露或偏心小于0.2mm卡尺
色差
同一单号整批胶体颜色一致
,
不能直观的看出来
.
目测
胶体
表面有无污垢,无残胶存在.胶体表面光滑,不能有油
性物质存在,没有少胶渗胶凹凸不平等缺陷
目测
胶体含杂物
灯珠/杯内含杂质不大于0.1mm,所有杂质不允许连接
任意两个电极或形成导通状态。
目测
气泡
碗内芯片正上方不能有气泡,芯片以上区域不能有影
响出光的气泡,其他部位气泡直径小于0.3mm,数量
不超过2个
目测
芯片
芯片位置处于胶体横面中央位置,不得偏移,竖面上
下位置一致,与前后批次要求一致
目测
胶体表面划
伤
芯片以上区域允许有小于0.2mm*1.0mm的划伤一条,
其他区域以不影响出光效果为限
卡尺
性能
电压VF(V)正向电压不能超出0.2V
发光二极管测试
仪
漏电流IR(uA)小于2uA以上
发光二极管测试
仪
亮度
全彩:1:1.15(蓝灯按20mA分光)
单双色:1:1.2
发光二极管测试
仪
点亮后无色差,无亮度差,通过白纸覆盖检测透光目
测一致性良好
目测
波长
RGB都须为正波段
发光二极管测试
仪
全彩≤3nm单色≤6nm
发光二极管测试
仪
角度
单双色≤±10°全彩≤±7.5°
各颜色平均角度差别≤15°
插在PCB上点亮不能有花屏现象
发光二极管测试
仪
文件状态拟制审核批准版本号页次执行日期
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