凌泰通信技术有限公司文件编号
文件名称可靠性测试标准
版本V1.0
实施日期
2011-7-22
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1
目录
1目的…………………………………………………………………………………………4
2范围…………………………………………………………………………………………4
3参考文件……………………………………………………………………………………4
4测试项目及要求……………………………………………………………………………4
4.1机械应力测试…………………………………………………………………………4
4.1.1样机数量及其分配……………………………………………………………4
4.1.2正弦振动测试…………………………………………………….…………...5
4.1.3跌落测试……………………………………………………….……………...5
4.1.4翻盖铰链耐压测试………………………………………………..…………..6
4.1.5低等级重复跌落测试……………………………………………….………...6
4.1.6镜片硬度测试………………………………………….……………………...6
4.1.7镜片抗冲击测试……………………………………….………………………7
4.1.8天线安装强度测试………………………………….…………………………7
4.1.9螺母拉力及扭矩测试………………………………..………………………..7
4.1.10挂绳孔拉力测试……………………………………..………………………..8
4.1.11软压测试……………………………………………….………………….….8
4.1.12手机硬压测试………………………………………………………………...8
4.1.13扭转测试…………………………………………………….……………..….9
4.2寿命测试………………………………………………………………………………9
4.2.1样机数量及其分配…………………………………………..………………..9
4.2.2塑胶件(喷涂件与电镀件)测试(8套外壳)……………….……………….9
4.2.3RCA磨损测试………………………………………………….……………..9
4.2.4附着力测试………………………………………………………………..….10
4.2.5硬度测试………………………………………………………………...……10
4.2.6抗人造汗水测试…………………………………………………………..….11
4.2.7耐醇性测试………………………………………………………….………..11
4.2.8耳机按键打击寿命试验………………………………………………….……..…12
4.2.9按键寿命测试……………………………………………………….………..12
4.2.10SIM卡夹寿命测试…………………………………………………………….12
4.2.11翻盖寿命测试…………………………………………………….……………13
4.2.12充电器及耳机插拔寿命测试………………………………….………………13
4.2.13充电器/数据线及耳机摇摆测试……………………………………………….13
4.2.14电池/电池盖装配寿命测试……………………………………………..……..13
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2
4.2.15手写笔插拔寿命测试…………………………………………………………14
4.2.16触摸屏点击/划线寿命测试……………………………………………..…….14
4.2.17手机反复拆卸/重组装寿命测试…………………………………….………..14
4.2.18T卡插拔寿命试验…………………………………………………………….15
4.3环境应力测试………………………………………………………………………….15
4.3.1样机数量及其分配…………………………………………….………………15
4.3.2高温操作测试………………………………………………………………….15
4.3.3高温储存测试………………………………………………………………….15
4.3.4低温操作测试………………………………………………………………….16
4.3.5低温储存测试………………………………………………………………….16
4.3.6温度冲击测试………………………………………………………………….16
4.3.7湿热测试……………………………………………………………………….17
4.4特殊条件测试………………………………………………………………………….17
4.4.1盐雾测试………………………………………………………………………..17
4.4.2沙尘测试……………………………………………………..…………………18
4.5包装测试………………………………………………………………………………..20
4.5.1包装振动测试………………………………………………..…………………20
4.5.2包装跌落测试………………………………………………..…………………20
4.5.3包装储存测试………………………………………………..…………………21
1目的
建立移动手机可靠性测试标准,以确保产品满足要求。
2范围
本标准适用于凌泰通信有限公司所研发或引进的所有移动手机产品。
3参考文件
GB/T2421-1999电工电子产品环境试验第一部分:总则
GB/T15844.2-1995移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法
GB/T15844.3-1995移动通信调频无线电话机可靠性要求和实验方法
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3
GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第一部分:实验方法试验A:低温
GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第二部分:实验方法试验B:高温
GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第二部分:实验方法试验Ed:自由跌落
GB/T2423.10-1995电工电子产品环境试验第二部分:实验方法试验Fc和导则:振动
GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法
GB/T17626.2-1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
YD/T1215-2002900/1800MHzTDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(G
PRS)设备测试方法:移动台
YD1/1800MHzTDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测
量方法第一部分:移动台及其辅助设备
4测试项目及要求
4.1机械应力测试
4.1.1样机数量及其分配
测试项目样机数量试验顺序
1正旋振动测试
2跌落测试
2台根据测试项目
的序号顺序进
行
1挂绳孔拉力测试
2手机软压测试
3手机硬压测试
4翻盖铰链耐压测试
5镜片硬度测试
6镜片抗冲击测试
7天线安装强度测试
8螺母拉力及扭矩测试
2台
低等级重复跌落测试2台
扭转测试2台
4.1.2正弦振动测试
4.1.2.1测试样品数量为2台
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4.1.2.2测试条件及要求
振动频率10~60Hz(恒定位移0.5mm),60~500Hz(恒定加速度5G),扫频速度为1
octave/mimute,每个轴向持续振动5个扫频周期,共3个轴向。测试中手机处
于关机状态(不插SIM卡)。
4.1.2.3检验标准
4.1.3手机各项功能应该正常,PCB板元器件应无掉件和损伤;电池与手机之间装配良好,
无明显磨擦痕迹,手机LCD显示正常(如:不应存在透光.黑屏.白屏等不良现象)
4.1.4跌落测试
4.1.4.1测试样品数量为2台
4.1.4.2测试条件及要求
手机处于开机状态,从1.2米(PDA手机/液晶显示屏幕面积超过移动电话正面使
用面积二分之一的大屏幕移动电话机跌落高度为1米)高度自由跌落在混凝土或
钢制成的平滑坚硬的钢性表面。对于手机六个面(翻盖或滑盖手机要增加两个面,
打开翻盖时主按键面及电池面)每个面均需要跌落两次,跌落顺序为:底面—左
面—右面—后面—前面—电池面(注:先跌合盖再跌翻盖)。可以分为以下两个
跌落(试验时可以根据需要选取)
常温跌落:
常温下手机插上SIM卡及装电池并开机按以上方法进行跌落试验(注:试验前要
检查好手机各项功能是否异常并记录下以试验后对比)
低温跌落:
手机插上SIM卡及装电池并开机,在-15℃的环境下恒定2H后立刻按以上方法进
行跌落试验
检验标准
每次跌落后都应该对手机进行外观及功能检查,所有异常都应清楚地记录在案,
在所有跌落进行完毕后,对手机进行开壳检查,主要针对扣位及螺丝柱位等进行
检查;手机内部元件不能存在松脱或损坏现象.摇动手机应不会出现任何异响声,
手机各项功能应该正常,外观要求不允许手机表面存在任何程度的爆裂和变形,
但允许一定程度上的磨损(注:评审手机在进行跌落试验后需做电性能测试)
备注:对跌落过程中面壳与底壳轻微裂开(不能看到内部元件),只要用手能够
压回原位且不损扣位的可视为测试通过。
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4.1.5翻盖铰链耐压测试
4.1.5.1测试样品数量为2台
4.1.5.2测试条件及要求
手机开机开盖状态放于桌面,主LCD及Keypad面向下,用10Kg的力向下压翻
盖铰链处,持续时间为10秒
4.1.5.3检验标准
测试完后手机外观应无破损,翻盖功能正常且无异响。
4.1.6微跌测试
4.1.6.1测试样品数量为2台
4.1.6.2测试条件及要求
手机插入SIM卡开机,从7CM高度跌落到铺有静电席的桌面上,正反面各3000
次,每500进行一次外观及功能检查。
4.1.6.3检验标准
测试中不允许出现频繁掉电(不超过3次)、无读卡及功能异常现象,手机结构
应无破损;测试结束后轻拍手机不能有掉电现象。
4.1.7镜片硬度测试
4.1.7.1测试样品数量为2台
4.1.7.2测试条件及要求
4.1.7.3用2H(三菱)铅笔,将笔芯削成圆柱形并在400目砂纸上磨平后,装在专用
的铅笔硬度测试仪上(施加在笔尖上的载荷为500g,铅笔与水平面的夹角为
45°),推动铅笔向前滑动约5mm长,共划5条,再用橡皮擦将铅笔痕擦拭干净,
检查产品表面有无划痕
4.1.7.4检验标准
距镜片30cm并转动±45°目测,镜片表面不能有明显的划痕。
4.1.8镜片抗冲击测试
4.1.8.1测试样品数量为2台
4.1.8.2测试条件及要求
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将32g的不锈钢球从64cm高度自由跌落在镜片上(镜片装配在成品机上),中
心和四角各跌两次。
4.1.8.3检验标准
镜片允许出现白点,但不能出现裂纹。
4.1.9外置天线安装强度测试
4.1.9.1测试样品数量为2台
4.1.9.2测试条件及要求
a)用5Kg的拉力向外拉动天线;1000次。
b)用的扭矩扭动天线。
c)对天线四个方向各施加2kg的弯折力;1000次
d)手机内置天线此项可略。
检验标准
天线应无损坏、移位、松脱或折断现象,手机能寻找到网络,能打电话。各项基
本射频参数符合标准。
4.1.10螺母拉力及扭力测试
4.1.10.1测试样品数量为2台
4.1.10.2测试条件及要求
a)用拉力计测试螺母的最大破坏拉力;
b)用扭力计测试螺母的最大破坏扭矩。
4.1.10.3检验标准
最大破坏拉力应大于7.5Kgf,最大破坏扭矩应大于。
4.1.11挂绳孔和USB塞拉力测试
4.1.11.1测试样品数量为2台
4.1.11.2测试条件及要求
用细绳对挂绳孔施加5Kg的拉力,并持续30秒。USB塞施加1.5kg的拉力
4.1.11.3检验标准
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挂绳孔不能有任何变形或损坏。USB塞不能拉断和拉脱壳体。
4.1.12软压测试
4.1.12.1测试样品数量为2台
4.1.12.2测试条件及要求
4.1.13试验条件:
4.1.14软压测试:将手机装入存储卡和SIM卡并处于开机状态,显示屏朝上放置在挤压试验
机上,挤压头的中心对准手机中心。挤压硅胶头与手机垂直放置,挤压停留时间设为1S,
回到顶部的停留时间设为2S。对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。以300N力,
每分钟15~30次的频率反复挤压手机1000次(正反面各500次),每进行100次,需
对手机的外观及基本功能进行检查。滑盖机需4台机器进行测试,滑开及合盖状态各一
半
4.1.15检查标准:手机没有严重变形和损坏,外观无异常,及各项基本功能正常,能识别存
储卡和SIM卡。
4.1.16硬压测试
4.1.17测试样品数量为2台
4.1.18测试要求及条件
4.1.19将手机正面朝上平放在硬压试验台上,并固定好,调整气压阀门使压力为17kg力。
每分钟15~30次的频率反复挤压手机1000次(正反面各500次),每进行100次,需
对手机的外观及基本功能进行检查
4.1.20检查标准
4.1.21手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。
4.1.22扭转测试
4.1.22.1测试样品数量为2台
4.1.22.2测试条件及要求
手机处于开机状态,放于扭转测试仪上,用2N.m的力矩反复扭转机身共2,000
次,顺时针和逆时针方向各1000次,每500次进行外观及功能检测。
4.1.22.3检验标准
测试过程中,手机不能出现掉电现象,测试完后手机功能应无异常,电池与手机
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配合良好,手机外观不能有断裂,严重变形,按键功能不正常等异常。
4.2寿命测试
4.2.1样机数量及其分配
测试项目样机数
量
试验顺序
翻盖/滑盖寿命测试
2台
根据测试项
目的序号顺
序进行
1SIM卡夹寿命测试
2T-FLASH、SD-MINI卡插拔试验
3充电器及耳机插拔寿命测试
4充电器/数据线及耳机摇摆测
试
5电池/电池盖装配寿命测试
6手写笔插拔寿命测试
7触摸屏点击/划线寿命测试
2台
1按键寿命测试
2耳机按键寿命测试
2台
4.2.2塑胶件(喷涂件与电镀件)测试(8套外壳)
包含RCA磨损测试、附着力测试、硬度测试、抗人造汗水测试、耐醇性测试、抗饮料腐
蚀测试六个项目。
4.2.3RCA磨损测试
4.2.3.1测试样品为2套外壳
4.2.3.2测试条件及要求
将喷涂件或电镀件固定在RCA测试仪上,施加175g的负载对同一位置进行反
复磨擦,喷涂件要求测试平面为300圈(棱角位置根据角度定制圈数),电镀
件要求测试平面为300圈;按键丝印要求为175克100圈;橡胶漆部件要求
测试平面为175克120圈;铭牌(Logomarking)/面壳表面丝印要求为175
克50圈;五金电镀要求300圈.每50圈进行一次检查,并记录下每一次的检
查结果
4.2.3.3检验标准
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测试后整个测试表面原始的颜色不可以改变,图案不可消失,油漆或镀层不
透底(露出底材)。
4.2.4附着力测试
4.2.4.1测试样品为2套外壳
4.2.4.2测试条件及要求
a)对于喷涂件,使用百格刀在表面划出100个1mm2的小格,划格的深度以
刚露出底材为准,用小软刷将划痕处的碎屑或粉沫清扫干净,使用3Mref.610
胶纸紧紧贴住划格面(可用手压紧),在60~90秒的时间内使之成180°角快速
拉起。
b)对于电镀件,使用百格刀在表面划出6条间隔为2mm的平行线和1条与之
垂直的线,划格的深度以刚露出底材为准,使用3Mref.610胶纸紧紧贴住划
格面(可用手压紧),在60~90秒的时间内使之成180°角快速拉起
4.2.4.3检验标准
a.对于喷涂件,必须划痕周围只能超过5%的喷漆面脱落,不能
有满格脱落;
b.对于电镀件,覆盖物脱落不能超过5---10%,不允许有满格脱落。
(3)硬度测试:
4.2.4.4测试样品为2套外壳
4.2.4.5测试条件及要求
用2H铅笔(三菱),将笔芯削成圆柱形并在400目砂纸上磨平后,装在专用的
铅笔硬度测试仪上(施加在笔尖上的载荷为750g,铅笔与水平面的夹角为
45°),推动铅笔向前滑动约5mm长,共划5条,再用橡皮擦将铅笔痕擦拭干
净,检查产品表面有无划痕(划破面漆)。
4.2.4.6检验标准
4.2.5距表面30cm并转动±45°目测,试验处表面应无明显划痕为合格。
4.2.6抗人工汗水测试
4.2.6.1测试样品为4套外壳
4.2.6.2测试条件及要求
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a)把无尘布放于PH值为4.7的酸性溶液充分浸透,然后将手机完全包裹起来,
并确保无尘布与样机表面充分接触,并用塑料袋密封好,然后放在高温高
湿(温度40℃,相对湿度95%)测试环境中(不能将样机堆放,侧面或正
面并排放置),在24小时后(表面过UV的金属件只需做12小时),将样品
从测试环境中取出,并且放置2小时后,检查样品表面喷漆。
4.2.6.3检验标准
1、样品表面允许轻微变色、发白;接收直径小于0.5mm的麻点,不允许起泡(用
手指可以抠掉),不得有漆膜脱落、分离、变色等明显异常。允许出现可用绒布
抹掉的浅灰斑。低纯度合金覆盖层允许轻微变暗,但不允许出现锈蚀、变色等
异常。
2、附着力达3B(脱落面积5%~15%)。
3、镜片背面丝印:变色、脱落,只做参考,但是恒定湿热、冷热冲击测试必须
pass。
4.2.6.3耐醇性测试:
4.2.6.4测试样品为2套外壳(包括字钮按键)
4.2.6.5测试条件及要求
用纯棉布蘸满无水酒精(浓度≥99.5%),包在专用的500g砝码头上(包上棉
布后测试头的面积约为1cm2),以40次/分钟~60次/分钟的速度,20mm左右
的行程,在表面来回擦拭150个循环。
4.2.6.6检验标准
a)对于喷涂件要求表面字体或图案内容仍完整且清晰可认;
b)对于电镀件要求表面不透底(不露出底材)时合格。
4.2.6.7耳机按键打击测试
4.2.6.8测试样品为2套外壳
4.2.6.9测试条件及要求
4.2.6.10测试周期常用耳机按键为5万次,按键速度为60次/分钟,按键压力为200g。
测试中每5千次进行一次功能外观检查。
4.2.6.11检验标准
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测试完成后键钮的弹性应该良好,耳机通话功能应该正常。
4.2.7按键寿命测试
4.2.7.1测试样品:2台
4.2.7.2测试条件及要求
测试周期常用按键为30万次,非常用按键(侧键)为10万次,按键速度为
60次/分钟,按键压力为200g。测试中每5千次进行一次功能外观检查。
4.2.7.3检验标准
测试完成后键钮的弹性应该良好,功能应该正常。
4.2.8SIM卡座寿命测试
4.2.8.1测试样品数量为2台
4.2.8.2测试条件及要求
按正常使用方法反复插入取出SIM卡1,000次,每100次进行一次开机入网检测。
4.2.8.3检验标准
SIM卡接触片和推钮开关应该良好,手机读卡功能使用正常。
4.2.9翻盖/滑盖寿命测试
4.2.9.1测试样品数量为2台
4.2.9.2测试条件及要求
4.2.9.3手机在开机状态下,用手工或者测试夹具进行反复翻盖/滑盖测试10万次,
(翻盖角度为140°)每翻5,000次进行一次功能测试,包括显示,声音,外
观等方面。
4.2.9.4检验标准
实验后翻盖手感应与实验前基本一致。手机外观结构及功能应无异常。
4.2.10充电器/数据线及耳机插拔寿命测试
4.2.10.1测试样品数量为2台
4.2.10.2测试条件及要求
a)充电器插拔:插入充电器对手机充电(1台开机,1台关机),直到手机
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正常显示充电状态时拔出充电器,共3000次;
b)耳机/数据线插拔:开机状态,反复插入拔出耳机2000次,每次插入后
至少保持2秒
检验标准
每500次进行一次功能及结构检查,充电及耳机功能应该正常,I/O接口和焊
盘无损坏和松动,插入后无松脱现象(插入后至少能够承受手机本身的重量)。电池/电池盖
装配寿命测试
4.2.11充电器/数据线及耳机摇摆测试及拉力测试
4.2.11.1测试方法
常温条件下将数据线及耳机各2PCS的连接器夹在夹具上,垂直方向在导线上使加500G(耳
机线200G)负重,摇摆的角度为-60度到+60度,摇摆测试速度为每分钟30次。共3000次。
将数据线或耳机插入手机,在线的另一端施加1KG的拉力(法码)保持10S。数据线不能与
手机USB脱落。
4.2.11.2要求
充电器/数据线耳机各要求3000次后不能出现功能不良和外观破裂情况。
4.2.12电池/电池盖装配寿命测试和电池盖拉力测试(1kgf≤f≤2kgf)
4.2.12.1测试样品数量为2台
4.2.12.2测试条件及要求
4.2.12.3将电池/电池盖反复拆装1,000次,每500次进行一次开机检测
4.2.12.4检验标准
手机及电池卡扣功能正常无变形,电池触片、电池连接器应无下陷、
变形及磨损的现象,外观无异常。
4.2.13手写笔插拔寿命测试和手写笔拉伸测试
4.2.13.1测试样品数量为2台
4.2.13.2测试条件及要求
4.2.13.3将手机处于开机状态,手写笔插在手机插孔内后拔出,反复进行1万次,每
5,000次检查手机笔插入拔出结构功能、外壳及笔是否正常。
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4.2.13.4检验标准
手机笔输入功能应无异常,外观应无损伤。
手机笔拉伸测试1万次后能正常拉伸,无损伤。
4.2.14触摸屏点击/划线寿命测试
4.2.14.1测试样品数量为2台
4.2.14.2测试条件及要求
a)a)点击测试:将手机设置为开机状态,使用触摸屏测试仪(接触垫尖端
半径为3.75mm,硬度为40deg的硅树脂橡胶)点击LCD的中心位置25万
次,点击力度为250g,点击速度为2次/秒;
b)b)划线测试:将手机设置为关机状态,在同一位置使用随机附带的手写
笔划线10万次,力度为150g,划线速度为60mm/s;
4.2.14.3检验标准
触摸屏不能出现电性能不良的现象,表面不能有损伤。
4.2.14.4T-FLASH、SD-MINI卡插拔试验
4.2.14.5测试样品数量为2台
4.2.14.6测试条件及要求
4.2.14.7插上T-FLASH、SD-MINI卡,然后取下T-FLASH、SD-MINI卡,再重新装上,
反复1000次,每插拔100次检查开机是否正常,至700次时每50次检查开机
是否正常
4.2.14.8检验标准
T-FLASH、SD-MINI卡触片,T-FLASH、SD-MINI卡推扭开关正常,手机功能正常使用
4.3环境应力测试
4.3.1样机数量及其分配
测试项目样机数量试验顺序
1高温操作测试
2高温储存测试
2台
根据测试项
目的序号顺
序进行
1低温操作测试
2低温储存测试
2台
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14
温度冲击测试2台
湿热测试2台
4.3.2高温操作测试
4.3.2.1测试样品数量为2台
4.3.2.2测试条件及要求
4.3.2.3手机处于待机状态,储存好时间(北京时间)日期.照片.信息.录音.电话号
码(电话号码需存在手机里面,不允许存在SIM卡里);放入温度+55±5℃环
境中4h,再此环境中每隔1h测试其功能;包括呼叫、接听电话,发送、接收
信息等及检查手机各项功能是否正常和试验前在手机里所存的东西是否完整,
无丢失现象或时间错乱
4.3.2.4检验标准
所有功能应该正常。
4.3.3低温操作测试
4.3.3.1测试样品数量为2台
4.3.3.2测试条件及要求
4.3.3.3手机处于待机状态;储存好时间(北京时间)日期.照片.信息.录音.电话号
码(电话号码需存在手机里面,不允许存在SIM卡里);放入温度-20±5℃环
境中4h,再此环境中每隔1h测试其功能;包括呼叫、接听电话,发送、接收
信息等及检查手机各项功能是否正常和试验前在手机里所存的东西是否完整,
无丢失现象或时间错乱
4.3.3.4检验标准
所有功能应该正常。
4.3.4高温储存测试
4.3.4.1测试样品数量为2台
4.3.4.2测试条件及要求
4.3.4.3将待测手机(关机状态)放于温度为+72℃放置48h,在常温条件下恢复2h
后进行功能测试及外观检查,最后进行开壳检查。
凌泰通信技术有限公司文件编号
文件名称可靠性测试标准
版本V1.0
实施日期
2011-7-22
制定刘亮鸿审批
15
4.3.4.4检验标准
手机功能应无异常,外观及结构上应无任何不良现象,开壳检查时螺丝柱或
其它部件不能有任何开裂现象。对于电池,其外壳应无变形或其变形不会导
致电池内部元件暴露出来。
4.3.5低温储存测试
4.3.5.1测试样品数量为2台
4.3.5.2测试条件及要求
4.3.5.3将待测手机(关机状态)放于温度为-40℃环境中72h,在常温条件下恢复
2h后进行功能测试及外观检查,最后进行开壳检查。
4.3.5.4检验标准
手机功能应无异常,外观及结构上应无任何不良现象,开壳检查时螺丝柱或
其它部件不能有任何开裂现象。
4.3.6温度冲击测试
4.3.6.1测试样品数量为2台
4.3.6.2测试条件及要求
关机状态,将手机放入温度冲击试验箱内,并设置温度为:高温+70℃,低
温-30℃,每个温度持续30分钟,温度转换时间在15秒内,总共测试32个
循环。测试完后在室温条件下恢复1小时,进行功能、外观及开壳检查。
4.3.6.3检验标准
手机功能应无异常,外观及结构上应无任何不良现象,开壳检查时螺丝柱或
其它部件不能有任何开裂现象;对于电池,其外壳应无变形或其变形不会导
致电池内部元件暴露出来。
4.3.7高温高湿测试
4.3.7.1测试样品数量为2台
4.3.7.2测试条件及要求
4.3.7.3将待测手机(开机状态)储存好时间(北京时间)日期.照片.信息.录音.电
话号码(电话号码需存在手机里面,不允许存在SIM卡里)放于温度为50±3℃
凌泰通信技术有限公司文件编号
文件名称可靠性测试标准
版本V1.0
实施日期
2011-7-22
制定刘亮鸿审批
16
湿度为95±2%的环境中48h,试验后对手机各功能、外观及开壳检查
4.3.7.4检验标准
4.4手机功能应无异常,外观及结构上应无任何不良现象,试验前手机里所存的东西无丢失,试
验后开壳检查时螺丝柱或其它部件不能有任何开裂现象
4.5特殊条件测试
4.5.1盐雾测试
4.5.1.1测试样品数量为2台
4.5.1.2测试条件及要求
4.5.1.3将待测手机用细绳悬挂置于盐雾测试箱内,测试盐溶液浓度为5%,PH值为
6.5~7.2,测试箱内温度保持在35+2℃,连续雾化24h后取出用纯净水洗涤干
净在常温下恢复2h,检查外观及功能有无异常
4.5.1.4检验标准
手机所有功能应该正常,外观上不能有变色、脱落或氧化生锈等现象(不
拆机壳的情况下)。
4.5.2粉尘测试
4.5.2.1测试样品数量为2台
4.5.2.2测试条件及要求
将待测手机放于沙尘测试箱内(正反面各一台)48h,沙尘(用滑石粉代替)
密度为1Kg/m3,吹尘速度为6~9m/s。
4.5.2.3检验标准
手机各种功能应该正常,LENS内不能进入沙尘。
4.6包装测试(2箱)
4.6.1包装振动测试
4.6.1.1测试样品数量为1箱
4.6.1.2测试条件及要求
凌泰通信技术有限公司文件编号
文件名称可靠性测试标准
版本V1.0
实施日期
2011-7-22
制定刘亮鸿审批
17
4.6.1.3将手机按出货要求包装好后固定于振动测试仪上,设置振动条件为:5~10Hz
恒位移(0.5mm),10~55Hz恒加速度(1.0G),55~500Hz恒加速度(1.5G);一
个扫频循环时间为30分钟,每个轴向振动2小时,共振3个轴向
4.6.1.4检验标准
测试完后箱内彩盒不能有磨损,内部包装材料(胶袋、塑胶壳或鸡蛋壳等)不
能磨花,手机及其配件外观应无损伤,功能应正常。
4.6.2包装跌落测试
4.6.2.1测试样品数量为1箱
4.6.2.2测试条件及要求
将手机按出货要求包装好后按六面,三棱,一角的顺序跌落于混凝土或大理石
地板上,跌落高度按其重量决定,如下表:
包装件重量(kg)跌落高度(cm)
≤1080
11–2560
25–5045
50–7535
76–20030
200–30025
300以上20
4.6.2.3检验标准
测试样品表面及其零部件不应有机械损伤,功能应该正常。
4.6.3包装储存测试
4.6.3.1测试样品数量为1箱
4.6.3.2测试条件及要求
将手机按出货要求包装好后置于温湿条件为40℃/95%RH的测试箱中4天;
4.6.3.3检验标准
内装产品不允许透水,测试样品功能应正常。
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