SCALABLE VERTICAL TRANSISTOR BOTTOM SOURCE-DRAIN E

更新时间:2023-05-22 01:24:52 阅读: 评论:0

专利名称:SCALABLE VERTICAL TRANSISTOR BOTTOM
电梯管理制度SOURCE-DRAIN EPITAXY
查流量发明人:Chun-Chen Yeh,Ruilong Xie,Alexander
Reznicek
姜维
申请号:US16732642
申请日:20200102
退避三舍的历史典故公开号:US20210210631A1
公开日:
20210708
专利内容由知识产权出版社提供
专利附图:
局域网限速软件摘要:A method of forming a miconductor device includes forming a sacrificial
epitaxial layer upon a substrate, forming a stack of miconductor material layers upon
the sacrificial epitaxial layer, forming fin mandrels for vertical transistors, lectively etching the sacrificial epitaxial layer beneath the fin mandrels, forming source-drain regions beneath the fin mandrels, lectively removing portions of the fin mandrels creating the fins, and forming source-drain contacts electrically connected to the source-drain regions.
制片人
申请人:International Business Machines Corporation
地址:Armonk NY US
入耳式耳机怎么戴国籍:US
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