可靠性报告51 Q1 2011
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公司权利声明（略）
概述
Altera的质量体系
图1：典型制造流程
可靠性试验方法
表1：可靠性认证要求银川海拔
表2：可靠性监控流程
寿命测试：方法和失效率预测
寿命试验方法
失效率预测
表3：常见失效机理和加速系数
寿命测试结果（以某族为例）
Stratix IV,ArriaII GX和HardCopy III/IV 40nm族
高温存储试验
回流焊模拟及湿气预处理痛伤
耐湿加速试验
高压蒸煮试验（AC）
无偏强加速应力试验（Unbiad HAST）
有偏温湿度试验（THB）
强加速有偏温湿度试验（HAST）
温度循环
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概述
Altera致力于设计并制造可编程逻辑器件（PLDs），Altera提供丰富的PLDs，帮助用户实现特定的数字逻辑功能。器件的详细说明请参考相应的数据手册。
产品信息，比如器件架构，详细的封装信息，使用和表面贴装的指引，和产品变更通知，请查阅以下的网页： 。Altera的文献可使用Adobe Acrobat或PostScript软件打开。
Altera的技术支持信息可以从网站产寻：
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/myaltera/mal-index.jsp 。Altera的在线技术支持系统和Altera知识库，可以帮助你找到技术问题的答案。另外，常见的问题，还可以通过Altera维护的免费热线电话获得解决：800-800-EPLD（U.S.以外地区呼入：1-408-544-8767）。
Altera建立了质量和可靠性的监控体系，符合ISO9001:2008，MIL-I-45208，和JEDEC等标准的要求。Altera和其所有的主要供应商都通过了ISO9000认证。Altera的可靠性认证和监控体系同时满足内部规范。1994年10月，Altera首次通过了ISO9001认证，核准方是NS
AI（爱尔兰国家标准局）。
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Altera的企业使命是要成为领先的可编程逻辑芯片解决方案，IP核，以及相关软件开发工具，和技术支持的首选供应商。Altera将利用这一优势，获得更大的逻辑IC市场市场份额。为实现和保持首选供应商地位，必须及时提供符合成本效益，领先全球的解决方案，同时不断满足或超过客户对我们的质量，可靠性和服务的期望。噩耗怎么读
Altera质量体系
Altera质量体系的设计满足ISO9001的所有要求，并在质量手册11G-00000里做了描述。Altera的质量体系同时通过了全球主要客户的评审。Altera保持完整的在线文档控制和计算机辅助制造系统以控制产品制造。内部规范和JEDEC保持一致。计算机辅助制造系统使得制造和封装据有可追溯性。同时建立工程师网络随时解决客户在质量和可靠性方面的问题。
Altera有能力提供汽车级别的高质量高可靠性的产品，因为主要的制造合作伙伴台积电（TSMC）、先进（ASE）、以及安靠（AMKOR）都通过了ISO/TS16949标准。
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Altera对产品的测试和制造执行全面的质量控制。图1是典型的产品制造流程。
可靠性试验方法
可靠性认证和监控以产品族为基本单位实施。一个产品族内部，各成员使用基本相同的逻辑电路，嵌入式存储单元，和可编程的互连技术，以及相同的制造工艺，但是不同成员的densities（选择基础产品的部分功能？）不同，并使用不同的封装形式。一个产品族一般有2-10个成员。出于可靠性目的的数据和失效率预测，以相同工艺（存储器类别和特征尺寸）的一个产品族为基本单元报告。
产品族的认证按表1的要求执行。可靠性监控的日程及要求按表2执行。产品族的认证包括对同族内不同的densities、封装和引脚数的成员的认证。如果一个新的成员加入一个产品族，而且逻辑电路增加了50%以上，这个新产品要特别执行认证。
在汽车市场上销售的产品同时满足AEC的标准AEC-Q100，该标准要求更大的试验样品数。Altera是AEC和AEC-Q100的成员之一。详细参考网站： 。
