超薄栅氧化层击穿(TDDB)

更新时间:2023-05-16 00:52:04 阅读: 评论:0

超薄栅氧化层击穿(TDDB)
前⾯讲过关于TDDB的⼏种模型,今天更详细、深⼊、系统的介绍超薄栅氧化层击穿的相关知识,由于内容较多,也会分⼏次来完成,有兴趣的朋友可以仔细阅读。
按摩膏
gprof下⾯这种图给出了栅氧化层在栅电压下的表现,或是氢释放,或是阳极空⽳注⼊,导致氧化层缺陷,经过缺陷累积,致使介质击穿的过程,并且指出缺陷产⽣率与栅电压的正⽐关系。
栅氧化层击穿分类:硬击穿和软击穿
测试⽅法⽐较简单,我想⼤家都知道怎么测。
应⼒条件:CCS,CVS, PVS,扫描应⼒
祝考试顺利
测量步骤:
CVS: 在恒定的Vg电压下测试,持续⼀定时间,直到Ig击穿(如⼤于1uA);霸王别姬的故事
CCS:在恒定电流下测试,持续⼀段时间,直到Vg急剧降低,此时栅氧化层击穿。不要惊动爱情
福建南安市氧化层击穿应⼒模式:沟道注⼊,栅注⼊,衬底热载流⼦注⼊
氧化层击穿电学特性
硬击穿,软件穿,漏电三种曲线对⽐:
击穿发⽣时,Drain端电流变⼩,因为电流主要流向了栅。
表征⽅法:威布尔分布累积分布函数
本征击穿:物理过程,空⽳注⼊或者氢注⼊
栅氧化层中存在陷阱缺陷,在应⼒作⽤下,陷阱积累,导致导电通路的出现,缺陷积累到⼀定程度,最后因为热损伤,导致出现硅丝,氧化层穿通。
栅氧化层击穿图⽚
影响击穿的因素:⾯积效应,氧化层厚度,温度
早孕的表现
以上⼏种关系⼤家定性理解就可以了,也⽐较容易理解的。
今天的内容就是这些,有机会⼤家可以拿⾃⼰的测试结构多测些数据对⽐是否有类似效应,当然,没有机会的话也可以直接拿来⽤的,这些结论都是显⽽易见的,有点经验的常识就能理解的。推算预产期的方法

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标签:氧化   击穿   缺陷   导致
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