CD-R光盘产品常规检测参数与说明
古猗园简介清华大学光盘国家工程研究中心主 任徐端颐 教授指出，目前市面销售的 CD-R 光盘的分级标准是生产厂商各自制定的，即所谓的 A 、 B 、 C 级，均是厂家各自的品质标准。在裸盘下生产线的时候，通过外观检验、几何检验、刻录兼容性和刻录品质检验等工序，就分出 A 、 B 、 C 级盘片，一般厂商的 A 级盘片用来给重大的 OEM 客户和自有品牌交货， B 、 C 级盘片用来出给小 OEM ，或者做白标盘处理。所以，选择和评价 CD-R 盘片，不能只看其标称等级，而应看其技术指标及测试标准。 斜视的症状有哪些
由清华大学光盘国家工程研究中心起草的《可记录光盘（ CD-R ）常规检测参数》，已成为中华人民共和国新闻出版行业标准（ GY/T 38-2001 ），并于 2002 年 1 月 1 日实施。该标准规定了可记录光盘（ CD-R ）常规检测参数，适用于可记录光盘（ CD-R ）产品的质量检测。该标准 目前制定的技术指标及测试标准最高的为 A+ 级盘片，而没有所谓的 A++ 或 A+++ 级。
第一部分：光盘基本信息与检测标准
侧面描写是什么
• 盘片信息
光盘的信息区含有预刻槽，预刻槽含有恒线速度 CLV 时钟信息、时间编码和其他相关信息。部分记录盘的信息区分为以下部分：功率校准区 PCA 、程序记忆区 PMA 、导入区 LIA 、程序区 LOA 和未记录区 URA 。
• 常规检测参数
常规检测参数分为两大类。一类是 CD-R 机械尺寸检测参数（表一）；另一类是 CD-R 光电参数检测参数。本文主要介绍光电参数检测参数。
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CD-R 光电检测参数分为以下三类
中国城迅雷下载• 全部区域参数
组名创意偏心 ECC 、 径向躁声 RN 、垂直偏差 DEV 、盘片双折射率 BIR 、盘片不平衡度 U d, ；
对不起的英语• 未记录区参数
归一化摆动幅度 NWA 、 ATIP 错误率 ATER 、 ATIP 突发错误长度 ABERL 、记录前径向对比度 RC b ；
