质子X射线荧光分析（PIXE）洛伦佐·琼蒂尼（Lorenzo Giuntini）、塞尔日·马托（Serge Mathot）、弗朗切斯科·塔切蒂（Francesco Taccetti）、毛里齐奥·弗雷泰纳（Maurizio Vretenar）
1.分类
质子X射线荧光分析（proton-induced X-ray emission，PIXE）是一种非常灵敏的非破坏非侵入式元素分析技术，可对样品的化学元素进行定性／定量分析。
cad旋转夸女生漂亮的成语2.说明
PIXE要用小型粒子加速器（通常以2~4 MeV的能量发送质子）产生一束聚焦精准的低强度亚原子粒子束。粒子束中的质子会与样品的原子和原子核相互作用，样品内一些原子的内壳层电子被电离，导致一个外壳层电子填补空位，电子结合能的差异则以相应能量的X射线形式发射出来。每种元素都有特征性的X射线能量信号，将X射线探测器（通常为锂漂移硅探测器或硅漂移探测器）放置在靠近样品光束撞击点（即发射源）的位置，就可以区分不同的能量，生成受测区域的光谱成像。利用这一原理可以识别靶区内所有比氖重（即原子序数大于10）的原子种类。而每种原子产生的X射线数量与其在靶区的丰度成正比，因此也可以测量它们的浓度。PIXE的灵敏度非常高，可以表征很精细的样品（如古代绘画和陶瓷），也不会对样品的测试区域造成损伤。
PIXE的检测精度通常可达到百万分之几（PPM）±10%的水平，比SEM-EDS等平行技术高出大约两个数量级。如此之高的灵敏度，使PIXE在地质学、环境研究和空气污染、考古学和文化遗产科学等领域有着出色的用途。PIXE的新兴应用领域包括聚合物检测、失效分析和医药产品开发。值得注意的是，使用这种技术时样品无须置于真空中，且该技术只会产生低水平的X射线，操作团队无须特别防护。
3.应用
在文化遗产分析领域，可对文物样品进行PIXE扫描，生成表面化学成分的高空间分辨率（在真空条件下配合适当的质子束焦点，精度可达到几微米）2D图像，提供关于样品成分和结构的重要指示。也可根据颜料使用的历史，利用这项技术来为绘画间接断代，或确定修复干预的区域和时间范围。还可对同一作者的手稿进行墨迹成分测定，根据标有日期的文件，来判断未标日期的文件的年代，从而为历史事件编年。
4.局限性
PIXE的主要局限性是可识别的元素种类有限。原子序数较低的元素产生的X射线在到达探测器之前就会被吸收，因此PIXE只能准确识别钠以上的元素。此外，它的检测深度通常仅限于样品表面几十微米。PIXE可通过改变粒子能量或入射角度进行深度分析，但层的分离需要对数据进行复杂的处理，还
会伴随精度损失。
5.补充技术
限制物权在主要的补充技术中，与PIXE相当的还有其他几种利用离子束的技术，例如质子诱导伽马射线发射法（PIGE）、卢瑟福背散射光谱法（RBS）、弹性反冲探测分析法（ERDA）、核反应分析法（NRA）、电离发光法（IL）和PIXE同样重要，而且应用广泛的技术还有X射线荧光法（XRF）和SEM-EDS，前者的激发工具为数十千电子伏特的X 射线束，后者的激发工具为数十千电子伏特的电子束。
二十四孝图读书笔记6.技术规范与注意事项
组件：
—离子源
—加速器伦敦电影
—真空窗
—探测器
—分析软件
7.技术简史
尽管20世纪初人们就已经了解并开始利用电子诱导X射线发射技术，但直到1970年才在隆德大学进行了首次2MeV质子的测试。这项新技术在分离峰和宽能谱方面展现出了许多优点，自此便开始不断发展。新型探测器的出现，尤其是更小、更廉价的粒子加速器的出现推动了这一进展。
8.文献
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