掃描探針顯微鏡掃描探針顯微鏡(Scanning Probe (Scanning Probe (Scanning Probe Microscopy,SPM Microscopy,SPM Microscopy,SPM)) SPM是在80年代所發展的一種材料表面特性檢測儀器之總稱 其檢測的解析度可達奈米或甚至原子尺寸的等級
迎新主题除了試片的表面形貌外，具有量測試片表面材料特性的功能•材料表面之摩擦力(friction)
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日皮图片•電性(electrical)
•磁性(magnetic)
云梦山景区
曲奇饼干做法•熱效應(thermal)
•化學性質(chemical)
•光學性質(optical)
•其他
掃描探針顯微鏡掃描探針顯微鏡的基本特色的基本特色•高解析度：放大倍率~108–109倍•可在真空、氣體、及液體中使用
•3D 立體放大成像形容人物外貌的成语
•近距離量測
掃描探針顯微鏡掃描探針顯微鏡之優缺點之優缺點：•主要優點包括：
儀器體積小
樣品無須特殊處理
可在任何環境下進行處理•主要缺點則是：
新高考一卷作文掃描速度慢
瓷器茶具
資料重現率差
缺乏成份分析功能
