发烧了吃什么药专利名称：Data enhancement for defect inspection
单纯是什么意思bad on convolution neural network
发明人：ブラウアー ビョルン,ラマチャンドラン ヴィジャ
ヤクマル,ウォーリング フォード リチャード,ヤン
二母宁嗽丸
グ スコット エー
申请号：JP2019530496
申请日：20171206
公开号：JP2020501154A
公开日：
20200116
哈尔滨饭店专利内容由知识产权出版社提供
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哪种洗发水好用专利附图：
摘要：A system and method for providing enhanced input data to a convolution neural network (CNN) is disclod.The wafer image is received by the processor.The wafer image is divided into a plurality of reference images each associated with one die in the wafer
节日诗句image.Test image is received.Multiple difference images are generated by a difference between one or more of the test image and the reference image.Reference images and difference images are collected into enhanced input data for CNN and provided to CNN.
申请人：ケーエルエー コーポレイション
地址：アメリカ合衆国 カリフォルニア ミルピタス ワン テクノロジー ドライブ
国籍：US
代理人：特許業務法人ＹＫＩ国際特許事務所
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