专利名称:p型氮化镓系半导体的制造方法及热处理方法
专利类型:发明专利
发明人:谷村英昭,山田隆泰,加藤慎一,青山敬幸
申请号:CN2.4
申请日:20190725
公开号:CN110867371A
公开日:20200306
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明涉及一种p型氮化镓系半导体的制造方法及热处理方法。本发明提供一种能够使p型
掺杂剂以高效率活化的技术。向氮化镓(GaN)衬底注入镁作为p型掺杂剂。在包含氮及氢的气氛中利用
来自卤素灯的光照射,将该GaN衬底进行预加热,进而利用来自闪光灯的闪光照射,极短时间内加热
至高温。通过在包含氮及氢的气氛中将GaN衬底加热,便可补充已脱离的氮,防止氮缺乏。而且,可
一面向GaN衬底供给氢一面进行加热处理。进而,可使GaN衬底中存在的结晶缺陷修复。作为该等结
果,可使注入至GaN衬底的p型掺杂剂以高效率活化。
申请人:株式会社斯库林集团
地址:日本京都
国籍:JP
代理机构:北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人:陈甜甜
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本文发布于:2023-01-03 04:39:21,感谢您对本站的认可!
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