专利名称：TOKYOELECTRONLMITED
发明人：KenichiNARIKAWA
申请号：US16324733
申请日：20170606
公开号：US2A1
公开日：20190613
专利内容由知识产权出版社提供
专利附图：
摘要：Thereisprovidedadeviceinspectioncircuitcapableofmeasuringcurrents
supplycircuit
ofabox-sideinspectioncircuitincudesanoperationalamplifierandanresistor.A
powersourcehavingacurrentmeasuringfunction,theoperationalamplifier,then
ersourceisconnected
ersupplycircuit
furtherincludesanegativefeedbackchannelconfiguredtoapplyavoltagebetweenthe
nresistorandtheDUTtoaninvertinginputterminaloftheoperationalamplifier,
andapositivefeedbackchannelconfiguredtoconnectanupstreamnpointbetween
theoperationalamplifierandthenresistorandthenon-invertinginputterminalof
itivefeedbackchannelincludesafeedbackresistor
installedtherein.
申请人：TOKYOELECTRONLIMITED
地址：TokyoJP
国籍：JP
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本文发布于:2022-12-28 20:10:43，感谢您对本站的认可！
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